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产品详情
简单介绍：
选择巴鲁夫位移传感器BTL5-M-2814-1S
冲击负载 150 g/6 ms符合IEC 60068-2-27
振动 20g，10…2000 Hz符合IEC 60068-2-6
过电压?；?Transzorb?；ざ?
绝缘强度 500VAC（外壳接地）
防护等级符合IEC 60529 IP 68电缆引出，IP67(与BKS-S…插头可靠连接时)
详情介绍：
选择巴鲁夫位移传感器BTL5-M-2814-1S
通过内部非接触式的测控技术地检测活动磁环的位置来测量被检测产品的实际位移值的，
该传感器的***和*可靠性已被广泛应用于成千上万的实际案例中。
结构 型号系列，型面结构
非接触位置检测
IP67,对污染不敏感
无磨损
防冲击和振动
位置量输出
分辩率可达0.001mm（取决于采用的处理器）
信号可直接处理,或经与各类控制系统的接口兼容的控制卡,也可用于独立工作方式.
接口 模拟接口，电流
接口 插接器, M16
工作温度 20.0...28.0V
分辨率 ≤0.2μA
许可/*性 CE
cURus
用于动态规则应用 No
位置传感器数，大 1ST
接口 模拟接口，电流
接口组 模拟
接通峰值电流 ≤ 3A/0.5ms
连接方式 插接器
耐电压(GND – 外壳) 500VDC
输出信号 4…20mA
位置传感器数，大 1 ST
线性偏差，大 ±100μm
用于动态规则应用 No
BTL5-S113B-M1600-P-S32
BTL5-S113B-M2000-P-S32
BTL5-S113B-M2300-P-S32
巴鲁夫微脉冲位移传感器 BTL5-E10-M0150-P-S32机械特征：
额定长度 150mm
TK，典型(在500mm的50%时) ≤ 35ppm/K
仓储温度，低 100°C
仓储温度，低 -40°C
通过内部非接触式的测控技术地检测活动磁环的位置来测量被检测产品的实际位移值的，
该传感器的***和*可靠性已被广泛应用于成千上万的实际案例中。
结构 型号系列，型面结构
非接触位置检测
IP67,对污染不敏感
无磨损
防冲击和振动
位置量输出
分辩率可达0.001mm（取决于采用的处理器）
信号可直接处理,或经与各类控制系统的接口兼容的控制卡,也可用于独立工作方式.
接口 模拟接口，电流
接口 插接器, M16
工作温度 20.0...28.0V
分辨率 ≤0.2μA
许可/*性 CE
cURus
用于动态规则应用 No
位置传感器数，大 1ST
接口 模拟接口，电流
接口组 模拟
接通峰值电流 ≤ 3A/0.5ms
连接方式 插接器
耐电压(GND – 外壳) 500VDC
输出信号 4…20mA
位置传感器数，大 1 ST
线性偏差，大 ±100μm
用于动态规则应用 No
BTL5-S113B-M1600-P-S32
BTL5-S113B-M2000-P-S32
BTL5-S113B-M2300-P-S32
巴鲁夫微脉冲位移传感器 BTL5-E10-M0150-P-S32机械特征：
额定长度 150mm
TK，典型(在500mm的50%时) ≤ 35ppm/K
仓储温度，低 100°C
仓储温度，低 -40°C
测量值率(根据长度) 1 kHz, standard
选择巴鲁夫位移传感器BTL5-M-2814-1S